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用于逆向工程和探伤的自动激光扫描系统[外文翻译],附件c:译文用于逆向工程和探伤的自动激光扫描系统摘要近年来,激光扫描系统在工业上用于探伤和逆向工程更加频繁,例如,像发动机,电子产品,印模和铸造。然而由于缺乏有效的扫描软件,激光扫描经常由人来操作。因此,包括探伤和逆向工程过程在内的任务是非常昂贵的。在这研究中,我们假定用于零件的一个自动测量系统有一个自由面。为了使测量...
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内容介绍
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用于逆向工程和探伤的自动激光扫描系统
摘要
近年来,激光扫描系统在工业上用于探伤和逆向工程更加频繁,例如,像发动机,电子产品,印模和铸造。然而由于缺乏有效的扫描软件,激光扫描经常由人来操作。因此,包括探伤和逆向工程过程在内的任务是非常昂贵的。在这研究中,我们假定用于零件的一个自动测量系统有一个自由面。为了使测量过程自动化,和模块软件一样的适当软件系统也是需要的。此软件系统有一个激光扫描装置和能提供用于被测零件正确位置及方向的固定装置所组成。模块软件生成最理想的扫描图所以扫描操作能被执行。在计划扫描步骤里,不同的扫描参数要考虑到以产生最佳扫描途径,例如视角,景深,条纹长度,和闭塞。扫描时,生成的扫描图被下载到工业扫描仪上并且点数据被自动捕捉。规则的数据点位置被自动记名且数据点的质量被评估通过核对CAD模型和标准数据之间的不同。为论证一个自动测量系统,一个拥有两自由度的机动化轮盘和一个拥有四自由度CNC型的激光扫描仪被使用。
作者关键字:自动扫描;激光扫描仪;最佳扫描图;逆向工程
文章概要
1.绪论
2.基础研究范围
2.1.激光扫描系统基础
2.2.研究范围
2.3.先前调查
3.生成扫描图
3.1.全部程序
3.2.确定最初扫描方向
3.3.生成扫描路径
3.4.DOF和闭塞校核
4.自动激光扫描
4.1.激光扫描系统和零件安装
4.2.扫描路径的坐标转换
4.3.自动扫描和配准
4.4.扫描数据分析
5.结论
感谢
参考文献
1.绪论
一个传统工程加工随一个设计观念产生,而在逆向工程里,一个产品设计是
靠捕捉真实零件的外形。有一个自由表面的该零件通常是通过逆向工程加工被发展揭露的。在逆向工程里需要零件实体外形数据是一个基本过程。重构模具表面的质量依赖于点数据的类型和精确度,和测量设备的类型一样(1和2)。
当前,一个CMM(坐标测量机)和一个三维(3D)激光扫描仪被广泛使用在外形逆向加工和质量检查领域里。多数的CMM使用一个触发型的探针,但是有机械的类似扫描CMM也存在。触发型CMM需要点数据通过使探针接触零件,如此它适用于测量那些需要少量点数据的原始特征。扫描型的CMM比接触触发型的能捕捉更多的取样点并且比视力传感器更精确。他们能被用来测量任意外形,然而,他们不能测量由软材料和相对于激光扫描仪较低扫描速度的零件。激光扫描仪在另一方面通过非接触方法在短时间内获得大量数据点。由于激光扫描仪的精确性在逐渐改善,它们被广泛采用于工业上的许多应用。
用于逆向工程和探伤的自动激光扫描系统
摘要
近年来,激光扫描系统在工业上用于探伤和逆向工程更加频繁,例如,像发动机,电子产品,印模和铸造。然而由于缺乏有效的扫描软件,激光扫描经常由人来操作。因此,包括探伤和逆向工程过程在内的任务是非常昂贵的。在这研究中,我们假定用于零件的一个自动测量系统有一个自由面。为了使测量过程自动化,和模块软件一样的适当软件系统也是需要的。此软件系统有一个激光扫描装置和能提供用于被测零件正确位置及方向的固定装置所组成。模块软件生成最理想的扫描图所以扫描操作能被执行。在计划扫描步骤里,不同的扫描参数要考虑到以产生最佳扫描途径,例如视角,景深,条纹长度,和闭塞。扫描时,生成的扫描图被下载到工业扫描仪上并且点数据被自动捕捉。规则的数据点位置被自动记名且数据点的质量被评估通过核对CAD模型和标准数据之间的不同。为论证一个自动测量系统,一个拥有两自由度的机动化轮盘和一个拥有四自由度CNC型的激光扫描仪被使用。
作者关键字:自动扫描;激光扫描仪;最佳扫描图;逆向工程
文章概要
1.绪论
2.基础研究范围
2.1.激光扫描系统基础
2.2.研究范围
2.3.先前调查
3.生成扫描图
3.1.全部程序
3.2.确定最初扫描方向
3.3.生成扫描路径
3.4.DOF和闭塞校核
4.自动激光扫描
4.1.激光扫描系统和零件安装
4.2.扫描路径的坐标转换
4.3.自动扫描和配准
4.4.扫描数据分析
5.结论
感谢
参考文献
1.绪论
一个传统工程加工随一个设计观念产生,而在逆向工程里,一个产品设计是
靠捕捉真实零件的外形。有一个自由表面的该零件通常是通过逆向工程加工被发展揭露的。在逆向工程里需要零件实体外形数据是一个基本过程。重构模具表面的质量依赖于点数据的类型和精确度,和测量设备的类型一样(1和2)。
当前,一个CMM(坐标测量机)和一个三维(3D)激光扫描仪被广泛使用在外形逆向加工和质量检查领域里。多数的CMM使用一个触发型的探针,但是有机械的类似扫描CMM也存在。触发型CMM需要点数据通过使探针接触零件,如此它适用于测量那些需要少量点数据的原始特征。扫描型的CMM比接触触发型的能捕捉更多的取样点并且比视力传感器更精确。他们能被用来测量任意外形,然而,他们不能测量由软材料和相对于激光扫描仪较低扫描速度的零件。激光扫描仪在另一方面通过非接触方法在短时间内获得大量数据点。由于激光扫描仪的精确性在逐渐改善,它们被广泛采用于工业上的许多应用。
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