炉温检测系统的设计.docx

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炉温检测系统的设计,摘要本检测系统硬件设计以at89c51单片机为核心,对6通道炉温进行检测、存储,并具有传感器故障报警及等功能。用新型的铂电阻传感器代替传统了sdram,使系统对采集数据存储的可靠性得到保障。整个检测系统硬件包括两大部分电路,一部分是单片机系统,包括微控制器、a/d转换、采样保持器、通信模块、铁电存储电路;另外一部分包括...
编号:66-171543大小:351.34K
分类: 论文>通信/电子论文

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摘要
本检测系统硬件设计以AT89C51单片机为核心,对6通道炉温进行检测、存储,并具有传感器故障报警及等功能。用新型的铂电阻传感器代替传统了SDRAM,使系统对采集数据存储的可靠性得到保障。整个检测系统硬件包括两大部分电路,一部分是单片机系统,包括微控制器、A/D转换、采样保持器、通信模块、铁电存储电路;另外一部分包括信号调理及放大电路、电源模块等电路。单片机为系统的核心部分。六路传感器分别将产生的温度传感器信号由信号调理电路进行调理之后再由多路开关循环送入A/D转换器,再由单片机处理来自A/D转换器的数据。
关键词:单片机 传感器 温度检测









Abstract
The hardware design of this measure system concentrates on AT89C51 microcontrotler to test and storage the surface temperature of workpiece in the oven and temperature of oven in the six channels. And it is provided with giving an alarm when there is a malfunction in the sensors or batteries lack of electricity capacity. Replacing conventional SDRAM with new type ferroclectric memory, this system can get a guarantee on reliability of gathering data and storage. It is very easy and useful. The entire detection system hardware, including two major circuits, in part, single-chip systems, including micro-controller, A / D converter, sample-and-hold, and watchdog, communications module, fcrroclectric memory circuit; others, including signal conditioning and amplification circuits, power modules and other circuitry Single-chip core of the system. Six sensors, respectively, will have a signal from the temperature sensor signal conditioning circuits, and then by the multi-channel switching cycle into the A/D converter, and then single-chip processing from A / D converter data.
Key words:Single-chipmicro computer Sensor Temperature detection.





目录
摘要 Ⅰ
Abstract Ⅱ

第1章绪论 1
1.1 课题研究的目的和意义 1
1.2 炉温检测技术发展现状 3
1.3 本文设计要求及性能指标 4
第2章 炉温检测系统的硬件设计 6
2.1 系统总体框图的设计 6
2.2 单片机的选择 7
2.2.1 AT89C51介绍 7
2.2.2 单片机最小系统 8
2.3 信号调理放大电路的选择 9
2.3.1 传感器的选择 9
2.3.2 调理放大电路 10
2.4 多路选择开关的设计 11
2.5 A/D转换电路的设计 13
2.6 LED显示电路的设计 13
2.7 存储电路的设计 15
2.8 通信电路的设计 16
第3章 系统软件的设计 17
3.1 主程序的设计 17
3.2 数据采集模块的设计. 19
3.3 显示程序的设计 21
结论 24
致谢 25
参考文献 26
附录Ⅰ 27