简易半导体三极管参数测试仪设计报告.doc

简易半导体三极管参数测试仪设计报告

文章共15页，近4000字，文中有大量流程图，分析透彻，说明详细。

摘 要

本系统是利用C51，辅以必要的外围电路，用C语言编写程序，并进行模块化设计而成的简易半导体三极管参数测试仪。它具有功能稳定，精确度高，传输数据快的特点。本系统实现了题目的基本要求功能和发挥部分的功能，还有创新。
关键字：单片机 三极管 放大系数



Abstract

This system is a simple semi-conductor triode transistor parameter test apparatus to make use of the C51 as control carter, assist with the necessary outer circle electric circuit, write the procedure with the C language, and designed in model. It has the stable function and the high accuracy. It deliver the data with high speed. This system realizes the basic function requested and develop part of functions, still have some creative.

Key word: single chip audion magnify coefficient

目 录
摘 要
一、方案比较 、设计与论证…………………………………………………………（2）
二、理论分析与计算 ……………………………………………………………………（4）
三、电路图及有关设计文件 …………………………………………………………（6）
3.1、系统原理框图
3.2、系统电路图详细分析及其实现
3.3、系统软件流程图
四、测试仪器与方法……… ……………………………………………………………（11）
4.1、测试仪器
4.2、测试过程及方法
五、测试数据及测试结果分析 ……………………………………………………（12）
5.1、测试数据
5.2、结果分析
六、总结 ……………………………………………………………………………………（13）
参考文献
附 录

【参考文献】

[1]清华大学电子学教研组编，杨素行主编.模拟电子技术基础简明教程.第二版.北京:高等教育出版社,1998
[2]李清泉、黄昌宁编着.集成运算放大器原理与应用.北京:科学出版社,1980
[3]余锡存、曹国华编着.单片机原理及接口技术.西安：电子科技大学出版社，2000
[4]王振红编.数字电路设计与应用实践教程.北京：机械工业出版社，2003
[5]王福瑞等编著.单片微机测控系统设计大全.北京：航空航天大学出版社，1999