智能电器监控单元静电放电敏感性的实验研究.doc
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智能电器监控单元静电放电敏感性的实验研究,本文共7页3781字摘要：为研究智能电器监控单元的静电放电敏感性，利用静电放电发生器对设备机壳放电进行了实验研究。根据静电放电干扰的耦合途径以及智能电器监控单元的实际工作情况，选取电源模块直流侧电压作为研究智能电器监控单元的静电放电敏感性的对象，通过频谱分析得出直流侧对地电压和静...
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智能电器监控单元静电放电敏感性的实验研究
本文共7页 3781字
摘要：为研究智能电器监控单元的静电放电敏感性，利用静电放电发生器对设备机壳放电进行了实验研究。根据静电放电干扰的耦合途径以及智能电器监控单元的实际工作情况，选取电源模块直流侧电压作为研究智能电器监控单元的静电放电敏感性的对象，通过频谱分析得出直流侧对地电压和静电放电电压间的关系。装置采取屏蔽、接地和滤波等抗干扰措施时其静电放电敏感性降低，分析直流侧电压发生的相应变化得出结论：静电放电时，智能电器监控单元直流侧对地电压与装置的静电放电敏感性有一定的相关性。
关键词：智能电器监控单元，静电放电，敏感性，实验研究，电源模块直流侧电压，频谱分析
参 考 文 献
[1]Wilson Perry F，Ma M T．Fields radiated by electronic discharges[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，1991，33(1)：10-18．
[2]Caeeavo G，Cerri G．ESD field penetration into a populated metallic enclosure[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，2002，44(1)：243—249．
[3]Graziano Cerri．Theoretical and experimental characterization of transient electromagnetic fields radiated by electrostatic discharge(ESD)currents[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，2002，44(1)：139-146．
[4]Gr~iano Cerri．Modeling of electromagnetic interference induced by electrostatic discharge (ESD) inside resonant structures[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，2002，44(1)：19Z—ZO1．
[5]Wang K，Pommerenke D，Jian Min Zhang，et a1．The PCB level ESD immunity study by using 3 dimension ESD scan system
本文共7页 3781字
摘要：为研究智能电器监控单元的静电放电敏感性，利用静电放电发生器对设备机壳放电进行了实验研究。根据静电放电干扰的耦合途径以及智能电器监控单元的实际工作情况，选取电源模块直流侧电压作为研究智能电器监控单元的静电放电敏感性的对象，通过频谱分析得出直流侧对地电压和静电放电电压间的关系。装置采取屏蔽、接地和滤波等抗干扰措施时其静电放电敏感性降低，分析直流侧电压发生的相应变化得出结论：静电放电时，智能电器监控单元直流侧对地电压与装置的静电放电敏感性有一定的相关性。
关键词：智能电器监控单元，静电放电，敏感性，实验研究，电源模块直流侧电压，频谱分析
参 考 文 献
[1]Wilson Perry F，Ma M T．Fields radiated by electronic discharges[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，1991，33(1)：10-18．
[2]Caeeavo G，Cerri G．ESD field penetration into a populated metallic enclosure[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，2002，44(1)：243—249．
[3]Graziano Cerri．Theoretical and experimental characterization of transient electromagnetic fields radiated by electrostatic discharge(ESD)currents[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，2002，44(1)：139-146．
[4]Gr~iano Cerri．Modeling of electromagnetic interference induced by electrostatic discharge (ESD) inside resonant structures[J]．IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility，2002，44(1)：19Z—ZO1．
[5]Wang K，Pommerenke D，Jian Min Zhang，et a1．The PCB level ESD immunity study by using 3 dimension ESD scan system
