单片机控制的数字ic故障测试系统.doc

单片机控制的数字IC故障测试系统
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摘 要

本设计（单片机控制的数字IC故障测试系统）是采用单片机及外围器件构成的，要求将待测芯片插入等测插座从键盘拨入待测芯片的型号由软件根据芯片真值表就可以完成芯片的测试，并能通过发光二极管显示测试的结果。该测试仪构成简单，由一块单片机和几个外围器件组成；友好的操作界面，只需直观地从键盘拨入芯片的型号，实现引脚接地、电源和地的自动批配；测试的集成电路芯片较多，主要包括74系列和4000系列24引脚以下近300多个常用芯片的测试，不仅可以单独运行，也可以与微机联机运行。利用微机的显示器显示测试结果和存储容量大的特点，存储测试数设计从最基本的理论着手，逐步地引入到系统的设计部分，结构清楚的的设计部分给出了系统总体方案，硬件设计，软件设计和系统调试。

关键词：单片机，数字集成电路


目录
1. 数字集成电路测试的意义
1.1 集成电路的发展和应用
1.2 数字集成电路测试的意义
2. 方案的介绍
2.1 技术要求
2.2 方案的介绍
3. 硬件设计
3.1单片机简述
3.2电路的主要组成部分
3.3电路的工作流程
3.3.1电路的工作流程及电路原理图
3.3.2元件清单
5. 软件设计
5.1系统程序设计
5.2界面程序