8051系列微机控制器对瞬时故障的容错能力的合成——外文翻译.doc

This paper presents the implementation of a fault detection and correction technique used to design a robust 8051 micro-controller with respect to a particular transient fault called Single Event Upset (SEU). A specific study regarding the effects of a SEU in the micro-controller behavior was performed. Furthermore, a fault tolerant technique was implemented in a version of the 8051. The VHDL description of the fault-tolerant microprocessor was prototyped in a FPGA environment and results in terms of area overhead, level of protection and performance penalties are discussed.


本篇论文所要讲述的是一种8051故障监测的实现，以及可以用来针对单个事件扰动（SEU）的特殊瞬时故障来设计健全的8051微机控制器的纠错技术。对于在微机控制器运行中SEU的影响，已经有具体的研究了。而且，在8051的版本中，容错技术也得到了实现。在FPGA环境中，规定了容错微机处理器的标准的VHDL描述，而且根据区域的费用，保护级别和运行损失，对容错微机处理器的结果展开讨论。
1.介绍
得利于在微电子中技术不断的改进，现在已经可以制造出非常复杂的电路，来代替电路板，甚至是过去80年代的计算机。如今，由于微电子的发展，传统的应用设备变得越来越便宜，可靠，而且大范围的新的应用通过利用嵌入式系统，拥有了集成设备的优势。在所有情况下，微电子设备的结构主要基于数据处理器，例如，微控制器或DSP处理单元。