日企-测量技术专业教材.doc

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日企-测量技术专业教材,目 錄第一章通用測量系統指南第一節 : 引言、目的和術誾---------------------- ------------------1第二節 : 測量系統的統計特性---------------------------------------2第三節 : 標準---------------------------...
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目 錄

第一章 通用測量系統指南
第一節 : 引言、目的和術語---------------------- ------------------1
第二節 : 測量系統的統計特性---------------------------------------2
第三節 : 標準-----------------------------------------------------3
第四節 : 通用指南-------------------------------------------------4
第五節 :選擇/制定試驗程序-----------------------------------------5

第二章 評定測量系統的程序
第一節 : 引言-----------------------------------------------------6
第二節 : 測量系統的分析-------------------------------------------8
第三節 : 測量系統研究的準備--------- ----------------------------12
第四節 : 計量型測量系統研究指南----------------------------------12
第五節 : 量具特性曲線--------------------------------------------25
第六節 : 計數型量具研究------ -----------------------------------26
附錄A : ---------------------------------------------------------29
附錄B : ---------------------------------------------------------31
附錄C : ---------------------------------------------------------37
附錄D : ---------------------------------------------------------39
I : 測量系統与穩定性研究-----------------------------------------39
I : 測量系統与變異性研究-----------------------------------------41
名詞解釋 : 術語--------------------------------------------------43
其中小节说明:
檢定方法
1. 直接檢定法
直接檢定法包括直接評定法﹑微差法﹑零位法。
直接評定法﹕將被測量量与已知的同類量直接比較﹐從而得出被測量量的值。
微差法﹕測量被測量量与已知量之間的微小差值﹐從而得出被測量量的值。
零位法﹕將被測量量与已知量相比較﹐并使兩者的差值為零的一种測量法。
微差法与零位法不同在于﹐微差法要求有与被測量量值相近的精密標准器具﹐而零位法則可以采用比被測量量值小得多或大得多的標准器具。
2. 間接檢定法
間接檢定法是通過對被測量量有已知函數關系的其它量的測量而導出被測量量值的檢定方法。
應該指出﹐在直接和間接檢定中﹐還可以分為綜合檢定法和分項檢定法。
綜合檢定法又稱為整体檢定法﹐是直接用計量基准﹑計量標准﹐來查明和确認計量器具是否符合法定要求。
分項檢定法又稱為部件檢定法﹐它分別分析与測量影響受檢計量器具不确定度的各項因素或分量﹐然后通過計算求出合成不确定度或擴展不确定度﹐以查明和确認計量器具是否合格。
■ 檢定的步驟
檢定的步驟為﹕
1) 外觀与正常性檢查﹕檢查計量器具有否致命缺陷和能否正常工作。
2) 計量特性的檢定﹕按有關檢定規程的檢定方法進行。
3) 對檢定結果的數据進行處理和分析﹕例如算出平均值﹐求出不确定度﹐給出修正值等﹐必須時畫出誤差曲線圖進行分析。
4) 檢定結果的處理﹕檢定結果合格出具檢定証書﹐不合格的出具不合格通知書。
■ 檢定記錄
檢定記錄的內容包括﹕
1) 受檢計量器具的名稱﹑制造厂﹑型號﹑出厂編號以及額定特性和參數﹔
2) 檢定條件﹔
3) 所用標准器具的名稱﹑型號和編號﹔
4) 檢定日期﹔
5) 檢定過程中所進行的每一次獨立計量的結果﹔
6) 檢定結論﹔
7) 檢定員和核驗員簽字。